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折合到输入端噪声对ADC“接地输入端”直方图的影响（ADC具有少量DNL）
虽然ADC固有的微分非线性（DNL）可能会导致其噪声分布与理想的高斯分布有细微的偏差显示了部分DNL），但它至少大致呈高斯分布。如果DNL比较大，则应计算多个不同直流输入电压的­值，然后求平均值。例如，如果代码分布具有较大且特的峰值和谷值，则表明ADC设计不佳，或者更有可能的是PCB布局布线错误、接地不良、电源去耦不当。当直流输入扫过ADC输入电压范围时，如果分布宽度急剧变化，这也表明存在问题。

高速ADC(转换时间小于于1uS)
低速的ADC(转换时间大于300uS )
按照精度从低到高：
8位ADC，10位ADC，12位ADC，14位ADC，18位ADC，20位ADC，24位ADC；&oq=8位ADC，10位ADC，12位ADC，14位ADC，18位ADC，20位ADC，24位ADC

目前的高速ADC主要采用了以下两种结构形式。一种是全并行结构，也叫Flash结构。这种结构的ADC至少有2"-1个比较器，例如，一个八位ADC就至少有255个比较器。当ADC分辨率增加时，不仅电路体积庞大，而且功耗猛增，也易出现“火花码’，，因而一般用于分辨率较低的ADC，如六位、八位ADC.另一 种 结 构形式称为分区式结构或折叠式结构，如两步法、多步法。其电路结构主要包含了S/H(或T/H)放大器、Flash A/D转换器、时标电路及数字误差校正电路等。分区式结构ADC克服了纯Flash结构ADC随着分辨率增加，电路体积庞大、功耗猛增的缺点但又带来另一个问题，即差分放大器和其中与*二次转换处理输入电压有关的电路引入的误差，这些误差将**过转换器允许的误差，因此必须引入数字误差校正。

大多数高精度模数转换器 (ADC) 都没有高阻抗输入。输入信号直接通过一个开关连接到一个采样电容器。这种负载存在一些有趣的挑战。
有人试图通过直接连接一个电位计到输入来验证其 ADC 的运行。这样做的结果通常让人失望，因为获得的结果并不理想。这种情况下，在 ADC 输入上看到的信号呈现出巨大的峰值，因为大输入阻抗从采样电容器吸取电流，从而导致对电容器充电需要大量的电流。如果在转换器的采集时间 tACQ 内稳定下来，便不会出现问题。但是，如果没有在 tACQ 内稳定到 0.5 低有效位 (LSB) 以下，则会损耗精度。
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